DOSTが材料研究・欠陥検出向けにナノスケール分析装置を新たに導入

科学技術省（DOST）は、ナノスケールで材料を分析し欠陥を検出できる新しい機器を公開した。これは、企業の製品品質向上と電子デバイスの生産拡大を支援することを目的としている。

電界放射型走査電子顕微鏡（FE-SEM）と呼ばれるこの新機器は、タギッグ市ビクタンにある先端デバイス・材料試験研究所（ADMATEL）に導入され、エネルギー分散型X線（EDX）分析装置および電子後方散乱回折（EBSD）分析装置と組み合わせて使用され、材料試験および故障解析における施設の能力強化に役立てられる。

DOST長官レナト・U・ソリドゥム・ジュニア氏は、この機器がナノスケールで材料を検出できることから、国の先端研究および製造能力を強化するものだと述べた。

「この技術により、ナノ粒子、ナノチューブ、先端材料の精密な特性評価、さらには現代技術に不可欠な薄膜や多層コーティングの詳細な分析が可能になります」と、ソリドゥム氏は声明の中で語った。

潜在的な利用者としては、半導体企業、学術機関、研究機関のほか、生体サンプルや先端ナノ材料を分析する組織などが挙げられる。

「これにより、地元企業は問題を修正するだけでなく、最初からより優れた信頼性の高い製品を設計できるようになります」とソリドゥム氏は述べ、急速に変化する今日の技術環境において、半導体・電子産業が経済成長の重要な牽引役であり続けていると付け加えた。

フィリピン半導体・電子産業財団（SEIPI）のダニロ・C・ラチカ会長は、FE-SEMにより、性能や信頼性に影響を与えるデバイス構造、界面、材料挙動、プロセス関連の変動を精密に検査できると述べた。

同氏はまた、欠陥検出、根本原因分析、プロセス改善、検証、および複雑な信頼性問題の解決における同機器の重要性についても言及した。

ADMATELは、国内外のクライアントへの試験サービスの提供を継続するとともに、先端材料特性評価および半導体分析における共同研究に向けて、研究者、産業パートナー、および機関との連携を呼びかけている。

この取り組みは、OneDOST4Uフレームワークのもと、人間の幸福、富の創造、富の保護、持続可能性という4つの戦略的柱に基づき、科学的・革新的・包括的なソリューションを推進するDOSTのプログラムの一環である。— Edg Adrian A. Eva